場發射掃描電子顯微鏡簡介場發射掃描電子顯微鏡SEM5000是一款分辨率高、功能豐富的場發射掃描電子顯微鏡。先進的鏡筒設計，高壓隧道技術（SuperTunnel）、低像差無漏磁物鏡設計，實現了低電壓高分辨率成像，同時磁性樣品可適用。光學導航、完善的自動功能、精心設計的人機交互，優化的操作和使用流程，無論經驗是否豐富，都可以快速上手，完成高分辨率拍攝任務。

蔡司Crossbeam 550高分辨率掃描電子顯微鏡 蔡司Crossbeam 550是一款結合了高分辨率場發射掃描電鏡（FE-SEM）和新一代聚焦離子束（FIB）的雙束掃描電子顯微鏡。該設備不僅具備出色的成像和分析性能，還擁有優異的加工能力。

掃描電子顯微鏡 國儀量子 高分辨 SEM3300 國儀量子推出的SEM3300是世界上分辨率最高的商用鎢燈絲掃描電子顯微鏡。該顯微鏡具有性價比高、易于維護、操作相對簡單以及對場地要求較小等特點，便于大眾使用。SEM3300在20 kV分辨率達到2.5 nm，比普通鎢燈絲電鏡提高了16%，在任意電壓下都表現出分辨力。

鎢燈絲掃描電子顯微鏡SEM2000 SEM2000是一款基礎款的多功能分析型鎢燈絲掃描電鏡。20?kV分辨率可以做到3.9?nm，支持升級30?kV電壓，可觀察亞微級尺度樣品的微觀結構信息。擁有比臺式電鏡更大的移動范圍，適用于快速篩選待測樣品，更多的擴展接口，可搭載BSED、EDS等附件，使應用領域更廣。

超高分辨場發射掃描電子顯微鏡 SEM5000X SEM5000X是一款超高分辨率場發射掃描電子顯微鏡，其分辨率達到了突破性的0.6 nm@15 kV和1.0 nm@1 kV。高分辨物鏡設計、高壓隧道技（SuperTun nel）以及鏡筒工藝升級，實現了低電壓分辨率的進一步提升。全新設計的樣品倉，擴展接口增加至16個，快速換樣倉最大支持8寸晶圓（最大直徑208 mm），極大擴展 應用范圍。

FIB DB500 聚焦離子束電子束 雙束顯微鏡 DB500 擁有自主可控的場發射電子鏡筒和“承影”離子鏡筒， 是一款優雅全能的納米分析和制樣工具。高壓隧道技術 （SuperTunnel）、 低像差無漏磁物鏡 設計， 低電壓高分辨率成像， 保證納米分析能力。“承影” 離子鏡筒采用液態鎵離子源， 擁有高穩定、高質量的離子束流， 保證納米加工能力。